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多级互连的可靠性测试结构

摘要

根据本发明的实施例涉及允许在多个互连金属层中对电迁移效应进行测试的方法和结构。根据本发明的测试结构的实施例至少包括通过测试结构的不同金属层的两个分段。每个分段分别包括为加载电压和测量电压而配置的节点。对这些节点选择性地施加电压或感测电压,允许迅速、准确地检测每个金属层中的电迁移效应。

著录项

  • 公开/公告号CN100561731C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-11-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200610119025.9

  • 发明设计人 施雯;阮玮玮;

    申请日2006-11-30

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐谦

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江路18号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:43

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-15

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 23/544 授权公告日:20091118 终止日期:20181130 申请日:20061130

    专利权的终止

  • 2011-12-14

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L23/544 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2011-12-14

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 23/544 变更前: 变更后:

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-11-18

    授权

    授权

  • 2009-11-18

    授权

    授权

  • 2008-07-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-07-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-06-04

    公开

    公开

  • 2008-06-04

    公开

    公开

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