公开/公告号CN100561731C
专利类型发明授权
公开/公告日2009-11-18
原文格式PDF
申请/专利权人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;
申请/专利号CN200610119025.9
申请日2006-11-30
分类号
代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;
代理人徐谦
地址 201203 上海市浦东新区张江路18号
入库时间 2022-08-23 09:03:43
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-11-15
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 23/544 授权公告日:20091118 终止日期:20181130 申请日:20061130
专利权的终止
2011-12-14
专利权的转移 IPC(主分类):H01L23/544 变更前: 变更后:
专利申请权、专利权的转移
2011-12-14
专利权的转移 IPC(主分类):H01L 23/544 变更前: 变更后:
专利申请权、专利权的转移
2009-11-18
授权
授权
2009-11-18
授权
授权
2008-07-30
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-07-30
实质审查的生效
实质审查的生效
2008-06-04
公开
公开
2008-06-04
公开
公开
查看全部
机译: 多层互连的可靠性测试结构
机译: 用于互连可靠性测试的灵活结构
机译: 互连可靠性测试的灵活结构