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一种测试结构及一种后段金属互连可靠性的测试方法

摘要

本发明提供了一种基于多晶硅加热的测试结构以及一种金属互连工艺的可靠性测试方法,采用监测电阻温度系数来替代传统后段金属互连可靠性的测试方法,通过采用局部多晶硅加热方式实现了晶圆级测试和实时在线监测,避免了整片晶圆因烘烤而报废,相比传统测试时间缩短了2个数量级时间。最后结合一套优异的数据分析手段实现了线上金属互连可靠性快速异常诊断和监测,有效地增强了制程开发,产品量产,线上监测等工艺流程。

著录项

  • 公开/公告号CN109411383A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2019-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 枘熠集成电路(上海)有限公司;

    申请/专利号CN201811502538.7

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2018-12-09

  • 分类号

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 200120 上海市浦东新区南汇新城镇环湖西二路888号C楼

  • 入库时间 2024-02-19 08:29:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-01

    公开

    公开

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