首页> 中国专利> 极紫外波段发射效率测量装置

极紫外波段发射效率测量装置

摘要

一种极紫外波段发射效率测量装置,该装置的结构包括:沿极紫外光前进方向依次是铝膜、水平狭缝、第一柱面金镜、第二柱面金镜、平面金镜、竖直狭缝、平场光栅、X射线CCD和计算机,该装置的优点是:采用计算机采集和处理数据,迅速准确;灵敏度高可实现单次测量;成像系统和光栅可有效滤除杂散光,结果精确度高;可单独对5-40纳米波长范围内任意波段的效率进行测量。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-09-04

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 11/00 授权公告日:20091118 终止日期:20120716 申请日:20080716

    专利权的终止

  • 2009-11-18

    授权

    授权

  • 2009-02-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-12-10

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号