首页> 中国专利> 一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统

一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统

摘要

本发明公开了一种混杂颗粒系粒径分布反演方法与系统,属于光散射微小颗粒检测领域。包括:根据若干散射角度测量到的未知粒径分布的待测样品的光强自相关函数,通过累积量法计算在若干散射角度下待测样品的平均粒径,接着将该平均粒径输入至采用最优平滑因子训练好的混杂颗粒系粒径分布反演回归网络,最终得到待测样品的粒径分布曲线,所述最优平滑因子根据标定的动态光散射系统的噪声水平,评价并比较混杂颗粒系粒径分布反演回归网络反演效果得到。该方法适用于球形颗粒系、非球形颗粒系及存在多种不同性质与形态颗粒物的混杂颗粒系,且粒径分布反演速度快、效果好、非接触,可满足实际检测环境下的多种需求。

著录项

  • 公开/公告号CN115127965B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.12.02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN202211038130.5

  • 发明设计人 李微;徐佳星;杨克成;夏珉;

    申请日2022.08.29

  • 分类号G01N15/02;G06N3/04;G06N3/08;

  • 代理机构武汉华之喻知识产权代理有限公司;

  • 代理人胡秋萍;曹葆青

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-12-29 02:03:55

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号