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实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉仪

摘要

一种实时测量表面形貌的正弦相位调制干涉仪,包括一半导体激光器,沿该半导体激光器的出射光束前进方向同光轴地依次设置第一透镜组、分束器,在该分束器的透射光束的前进方向上设置被测物体,在分束器的反射光束的前进方向上放置有参考平板;被参考平板反射的光束前进方向上依次放置有第二透镜和探测元件,其特征在于:所述的探测元件的输出端与信号处理单元的第一输入端相连接,信号处理单元的输出端与计算机相连接,直流电源和信号源通过驱动器与半导体激光器相连接,该信号源的第二输出端与所述的信号处理单元的第二输入端相连接。本发明的优点是操作方便,测量范围大,精度高。

著录项

  • 公开/公告号CN100547344C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-10-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200710037262.5

  • 发明设计人 何国田;王向朝;

    申请日2007-02-07

  • 分类号G01B9/02(20060101);G01B11/24(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-03-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 9/02 授权公告日:20091007 终止日期:20120207 申请日:20070207

    专利权的终止

  • 2009-10-07

    授权

    授权

  • 2007-11-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-09-12

    公开

    公开

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