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一种基于射频偏转腔技术的质子束流扫描装置及扫描方法

摘要

本发明提供一种基于射频偏转腔技术的质子束流扫描装置,包括:功率源系统、射频结构系统、低电平系统;射频结构系统包括波导结构和射频偏转结构;射频偏转结构具备两个独立且正交的极化方向,对质子束流提供两个独立正交的横向偏转力;低电平系统独立控制两台功率源系统的功率水平,同时独立驱动两个正交极化方向的电磁场,经过所产生的两个正交横向偏转力的矢量叠加,使质子束流发射至待扫描物体的不同位置。本发明还提供相应扫描方法。本发明的装置通过具备两个独立正交的极化方向的射频偏转结构,实现任意立体角偏转;且其与低电平系统结合,可利用低电平系统快速改变脉冲微波功率的输出功率水平,实现质子束流任意角度的快速变换。

著录项

  • 公开/公告号CN112843497B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.09.16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海高等研究院;

    申请/专利号CN202110008927.X

  • 申请日2021.01.05

  • 分类号A61N5/10;H05H7/00;

  • 代理机构上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪

  • 地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区海科路99号

  • 入库时间 2022-09-26 23:20:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-16

    授权

    发明专利权授予

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