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一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法

摘要

本发明公开了一种压接式绝缘栅双极型晶体管高温反偏老化时间折算方法,通过计算压接式IGBT器件终端区钝化层拉应力造成的材料微元中的机械能,进而得到为获得IGBT器件同样老化程度,在不同温度、机械压力下必须持续的老化时间之间的比例系数,从而实现了不同老化时间之间的折算,进而可实现试验条件下器件的加速老化寿命与实际工作条件下使用寿命之间的折算。

著录项

  • 公开/公告号CN111859839B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.09.13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华北电力大学;

    申请/专利号CN201910292679.9

  • 发明设计人 程养春;郑夏晖;

    申请日2019.04.12

  • 分类号G06F30/39;G06F119/04;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 102206 北京市昌平区北农路2号华北电力大学

  • 入库时间 2022-09-26 23:20:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-13

    授权

    发明专利权授予

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