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单根纳米线原位力学性能测试和结构分析的方法及其装置

摘要

本发明属纳米材料原位表征领域。现有纳米材料力学性能测试中性能测试和结构分析是分开进行的,且操作复杂等。本发明方法:纳米线放入有机溶剂中,超声波分散10-30分钟成悬浮液后滴在涂有60-120nm火棉胶支持膜的金属载网上,使纳米线附着在支持膜上;将金属载网固定在试样座上放入透射电镜中;测量纳米线的原始长度l0和直径d0,调整透射电镜的电子束加速电压为80KV至400KV,束流密度在1020至8×1030电子/平方厘米秒,使火棉胶支持膜发生变形;纳米线随之变形;实时原位记录纳米线的变形过程中结构变化;测量变形后纳米线长度l和直径d,用公式n=l0/d0计算纳米线的长度和直径比,ε=(l-l0)/l0计算纳米线的最大应变量。本发明成本低工艺简单,从纳米尺度及原子层次上揭示一维纳米线的力学性能。

著录项

  • 公开/公告号CN100520351C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN200610057989.5

  • 发明设计人 韩晓东;张跃飞;张泽;

    申请日2006-03-03

  • 分类号G01N13/10(20060101);G01N1/38(20060101);G01B21/00(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人张慧

  • 地址 100022 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-07-29

    授权

    授权

  • 2006-10-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-08-09

    公开

    公开

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