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位移测量装置以及使用该装置的形状检查装置

摘要

本发明提供一种测量技术,借由具备可根据被测量物上的测量点的形状而从不同角度检测出正反射的光的复眼功能的光传感器,其不仅测量顶点或平坦面的位移也测量斜面的位移。其具备多个受光部(200)、(210)、(220),利用投光部(100),使光在被测量物上的测量点聚光,接收来自测量点的正反射的反射光,多个受光部在包括所照射的光并与大致垂直于被测量物的平面交叉的方向上,以测量点为轴大致排列为扇形,且各受光部的受光面所占据的可从测量点接收光的受光范围,以邻接的受光部的受光面彼此相连续的方式而配置。

著录项

  • 公开/公告号CN100498217C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-06-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 安立株式会社;

    申请/专利号CN200610127088.9

  • 发明设计人 田沼敦郎;中岛将行;

    申请日2006-09-26

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构11019 北京中原华和知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人寿宁;张华辉

  • 地址 日本神奈川县厚木市恩名5丁目1番1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 11/24 授权公告日:20090610 终止日期:20150926 申请日:20060926

    专利权的终止

  • 2009-06-10

    授权

    授权

  • 2007-05-30

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-04-04

    公开

    公开

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