首页> 中国专利> 一种针对集成QFN芯片的板级封装设计优化方法

一种针对集成QFN芯片的板级封装设计优化方法

摘要

本发明公开一种针对集成QFN芯片的板级封装设计优化方法,步骤包括:确定集成电路板的参数并建立热力耦合仿真模型;构建焊盘热应力和晶片翘曲的性能函数;构建焊盘热应力和晶片翘曲的极限状态方程;构建焊盘热应力和晶片翘曲的近似极限状态方程;校核焊盘强度和晶片翘曲;结束并输出板级封装最优设计和固定点最优误差容限。本发明通过对集成QFN芯片的板级封装构建热力耦合仿真模型,并采用区间分析技术建立极限状态方程,所得板级封装最优设计方案不仅可以满足热应力和翘曲的设计要求,同时也具有最低的加工成本和工艺难度。并且,本发明所提方法在效率和收敛性方面具良好综合性能。

著录项

  • 公开/公告号CN108614941B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-04-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖南城市学院;

    申请/专利号CN201810428420.8

  • 申请日2018-05-08

  • 分类号G06F30/398(20200101);

  • 代理机构43228 长沙惟盛赟鼎知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人黄敏华

  • 地址 413000 湖南省益阳市赫山区迎宾东路518号

  • 入库时间 2022-08-23 13:27:33

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号