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使用原子层沉积工艺制造金属硅酸盐层的方法

摘要

提供了使用原子层沉积工艺在半导体基底上制造金属硅酸盐层的方法。为了形成具有所需厚度的金属硅酸盐层,这些方法包括进行金属硅酸盐层形成周期至少一次。金属硅酸盐层形成周期包括重复进行金属氧化物层形成周期K次的操作以及重复进行硅氧化物形成周期Q次的操作。K和Q分别是1至10的整数,该金属氧化物层形成周期包括步骤:向含有基底的反应器中供应金属源气体,排出残留在反应器中的金属源气体,接着向该反应器供应氧化物气体。该硅氧化物层形成周期包括:向含有基底的反应器中供应硅源气体,排出残留在反应器中的硅源气体,接着向该反应器供应氧化物气体。

著录项

  • 公开/公告号CN100479113C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 三星电子株式会社;

    申请/专利号CN200510091335.X

  • 申请日2005-05-16

  • 分类号H01L21/316(20060101);H01L21/304(20060101);C23C16/44(20060101);C23C16/40(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人陶凤波;侯宇

  • 地址 韩国京畿道

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:24

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-04-15

    授权

    授权

  • 2006-04-12

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-02-15

    公开

    公开

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