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一种温控流体中子谱仪及其测量方法、分析处理系统

摘要

本发明涉及中子能谱测量领域,具体公开了一种温控流体中子谱仪及其测量方法、分析处理系统。所述温控流体中子谱仪,包括填充有流体的流体室,被流体室包围的探测器,对流体进行加热的加热元件等,从而实现了通过控制温度改变流体室内流体密度,提高了对10MeV以上中子的灵敏度,实现0‑1000MeV热中子的能谱测量;使用同一个探测器测量,不存在多测量器间相互干扰的问题;同时采温控方式改变流体密度,可快速组成一系列连续的不同密度的慢化层流体,为解谱提供足够数量的测量值。所述测量方法,基于探测器提供的足够数量的测量值,采用函数模拟方法构建响应矩阵及特征方程求取中子能谱,保证了测量的精准性和稳定性,解决了解谱时高能区符合度差的问题。

著录项

  • 公开/公告号CN111487670B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 四川轻化工大学;成都理工大学;

    申请/专利号CN202010363883.8

  • 申请日2020-04-30

  • 分类号G01T3/00(20060101);G01T1/36(20060101);

  • 代理机构50217 重庆强大凯创专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人范淑萍

  • 地址 643099 四川省自贡市汇东学苑街180号

  • 入库时间 2022-08-23 13:11:08

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