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一种用于高分辨力和高精度平面位移测量的二维光栅

摘要

一种用于高分辨力和高精度平面位移测量的二维光栅,包括:盘体和编码标线。其中,盘体为镀有不透光镀膜的玻璃材质,或者不透光的金属材质构成;编码标线是一组透光的标线,按照特定的编码排列。以x代表横向维度的编码元,y代表纵向维度的编码元,那么编码标线包括分别代表{x=0,y=0},{x=1,y=0},{x=1,y=1},{x=0,y=1}的四种编码标线,所有编码标线的横向间距相同,纵向间距也相等。当采用图像传感器对码盘进行成像,便可以实现对编码值的识别,进而通过译码表获取横向和纵向的位移信息。同时,由于所有编码标线的间距相同,可以方便的通过质心运算实现位移的细分运算。本发明通过与图像识别相配合,可以实现高分辨力、高精度的二维位移测量。

著录项

  • 公开/公告号CN112129230B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202011005403.7

  • 发明设计人 于海;万秋华;赵长海;

    申请日2020-09-23

  • 分类号G01B11/02(20060101);

  • 代理机构22214 长春众邦菁华知识产权代理有限公司;

  • 代理人李青

  • 地址 130000 吉林省长春市东南湖大路3888号

  • 入库时间 2022-08-23 13:05:49

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