公开/公告号CN110534536B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-08
原文格式PDF
申请/专利权人 苏州施密科微电子设备有限公司;太原工业学院;
申请/专利号CN201910802217.7
发明设计人 仝晓刚;
申请日2019-08-28
分类号H01L27/146(20060101);
代理机构32345 苏州智品专利代理事务所(普通合伙);
代理人吕明霞
地址 215000 江苏省苏州市相城区太平街道聚金路5号
入库时间 2022-08-23 13:05:08
机译: 一种用于测量样品激发荧光质的荧光的装置,其形式为滴液激发荧光质,其基本上平行地包含在两个表面铁砧之间的表面张力的作用下。测量样品激发荧光质的荧光的方法两个基本平行的超细砧座之间的表面张力所包含的纳米粒子的量和用于测量样品受到来自包括低于亚微米级的光源的光的样品的荧光光谱的方法该样品光谱的光源的光谱扩展进行测量以获得荧光光谱
机译: 一种用于修复安装在电子设备上的倒装芯片的系统和方法,该方法使用磨机去除切片并将芯片更换为铣削区域中的新切片
机译: 基于矩阵的传感器,通过基于MEMS的超光谱成像技术测量光电接收器上的单分离或混合色(或IOI)斑