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一种基于相移特征多项式高精度拟合的多表面测量方法

摘要

本发明涉及一种基于相移特征多项式高精度拟合的多表面测量方法,通过多加权多步相移算法中的特征多项式进行计算,得到其自变量的系数分布,为了测量时应用的便捷性,对该系数分布进行不同参数下的拟合,并且给出在不同的腔长系数下的可用相移参数的算法适用范围,实现测量方案的制定与算法设计的统一。此外还能够根据测量人员的实际需求和主观意愿进行测量方案中窗函数的选择,提供更多的测量方案制定的可行性,节约测量成本,能够实现一次性的多表面非接触式测量。本发明方法最大程度减少必须采集帧数,简化测量过程,并且尽可能避免纳入误差,并减少应用和计算成本。

著录项

  • 公开/公告号CN111811398B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN202010595133.3

  • 申请日2020-06-28

  • 分类号G01B11/00(20060101);G01B11/06(20060101);

  • 代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人何文欣

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2022-08-23 13:04:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-08

    授权

    发明专利权授予

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