首页> 中国专利> 三维存储器件中的具有处于衬底内的导电部分的接触结构及其形成方法

三维存储器件中的具有处于衬底内的导电部分的接触结构及其形成方法

摘要

提供了用于形成三维(3D)存储器件的结构和方法的实施例。在示例中,3D存储器件包括衬底、处于衬底上的存储堆叠体以及垂直地穿过存储堆叠体延伸的源极接触结构。源极接触结构包括处于衬底内并且具有不同于衬底的导电材料的第一源极接触部分。源极接触结构还包括处于第一源极接触部分以上,并且与第一源极接触部分接触并导电连接的第二源极接触部分。

著录项

  • 公开/公告号CN110998845B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长江存储科技有限责任公司;

    申请/专利号CN201980003394.7

  • 发明设计人 夏季;徐伟;黄攀;徐文祥;王贝寒;

    申请日2019-11-22

  • 分类号H01L27/11573(20170101);H01L27/11582(20170101);H01L23/528(20060101);H01L23/48(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构11376 北京永新同创知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘健;张殿慧

  • 地址 430223 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

  • 入库时间 2022-08-23 12:54:43

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号