一种广义哈德曼传感器

摘要

本发明实施例涉及微纳光学及光学检测领域，特别涉及一种广义哈德曼传感器。本发明实施例提供一种广义哈德曼传感器，包括第一超构表面元件和第二超构表面元件，第一超构表面元件和第二超构表面元件均包括：介质衬底以及至少一个周期的电介质纳米结构阵列，电介质纳米结构阵列设置在介质衬底上，电介质纳米结构阵列包含至少一个电介质纳米柱，第一超构表面元件用于将入射光聚焦到第二超构表面元件，第二超构表面元件用于显示入射光带有偏振态信息的图像，当入射光经过该广义哈德曼传感器后，可以通过光斑偏移检测入射光的波前相位，以及通过出射光图案来检测入射光的偏振态信息。