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一种宽带高分辨率光谱响应测量方法

摘要

本发明提出了一种宽带高分辨率光谱响应测量系统及方法,属于光谱响应测量和微波光子学领域,用于解决现有方法测量范围窄、测量分辨率低和仅能测量带阻光器件的问题。具体技术方案为:细步进可调光源发出的光载波进入双平行马赫‑曾德尔调制器,细步进射频源结合微波90°耦合器得到两路射频信号,并分别输入上下两个子调制器,通过偏置控制电路调整偏置电压,产生载波抑制单边带信号。该信号通过50:50保偏耦合器分成上下两路光信号,上路通过待测器件后进入光电探测器;下路经过1:99保偏耦合器后,1%的信号作为反馈信息进入偏置控制电路,99%的信号进入光电探测器。控制与信号采集电路对输入的两路电信号进行平衡探测,从而得到待测器件的光谱响应。

著录项

  • 公开/公告号CN110926511B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京工业大学;

    申请/专利号CN201911237519.0

  • 申请日2019-12-06

  • 分类号G01D5/353(20060101);

  • 代理机构11203 北京思海天达知识产权代理有限公司;

  • 代理人吴荫芳

  • 地址 100124 北京市朝阳区平乐园100号

  • 入库时间 2022-08-23 12:51:50

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