首页> 中国专利> 全透明无铬移相掩模实现100纳米图形加工的方法

全透明无铬移相掩模实现100纳米图形加工的方法

摘要

一种采用全透明无铬移相掩模实现100纳米图形加工的方法,具有优化处理的掩模图形数据;合适的掩模图形曝光工艺;合适的显影条件;严格控制铬模腐蚀条件;曝光后的掩模处理工艺;选择干法刻蚀的移相器制作工艺,合适的移相层厚度的确定等特点,且采用g线436nm波长的光源制备出分辨率高的100nm图形。本发明方法,大大提高了g线436nm波长光源的曝光分辨率,使得我们在没有昂贵的193nm波长光源的光学光刻设备(在1100万美元)的情况下,也能曝光出分辨率非常高的图形。本发明是一种经济实用的制造100nm图形的新方法,可以满足纳米电子器件研究迫切需要廉价的纳米加工手段的需求。

著录项

  • 公开/公告号CN100478784C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-04-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院微电子研究所;

    申请/专利号CN200510056280.9

  • 发明设计人 刘明;陈宝钦;谢常青;

    申请日2005-04-04

  • 分类号G03F7/20(20060101);H01L21/027(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周国城

  • 地址 100029 北京市朝阳区北土城西路3号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:12

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-05-08

    专利权的转移 IPC(主分类):G03F 7/20 变更前: 变更后: 登记生效日:20130418 申请日:20050404

    专利申请权、专利权的转移

  • 2013-04-17

    专利权的转移 IPC(主分类):G03F 7/20 变更前: 变更后: 登记生效日:20130326 申请日:20050404

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-04-15

    授权

    授权

  • 2006-12-13

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-10-18

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号