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一种利用先真空紫外光再氮等离子体两步活化直接键合铌酸锂和硅晶片的方法

摘要

一种利用先真空紫外光再氮等离子体两步活化直接键合铌酸锂和硅晶片的方法,属于晶圆键合技术领域。所述方法如下:将待键合的铌酸锂晶片和硅晶片置于真空紫外光光源下,在20~80%的湿度条件下活化;将真空紫外光活化后的晶片置于N2等离子体下,在10~80 Pa的压强下活化;将经两步活化后的晶片在室温下相互贴合,并将贴合后的晶片置于大气环境下存储;将存储后的晶片置于100~180°C的温度条件下保温,即完成铌酸锂和硅的直接键合。本发明的优点是:无需化学试剂对待键合晶片表面进行清洗,键合工艺简单,键合流程少;在低温下即可实现二者之间稳定可靠的高强度的直接键合,避免因二者之间巨大的热膨胀系数差异而使得键合界面开裂以及键合材料断裂现象的发生。

著录项

  • 公开/公告号CN109166793B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201811005392.5

  • 申请日2018-08-30

  • 分类号H01L21/18(20060101);H01L21/268(20060101);

  • 代理机构23206 哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 12:46:57

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