公开/公告号CN111091853B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-11-09
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
申请/专利号CN201911255853.9
发明设计人 傅俊亮;
申请日2019-12-10
分类号G11C7/06(20060101);G11C7/08(20060101);G11C16/28(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人罗雅文
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
入库时间 2022-08-23 12:46:32
机译: 具有内置测试电路的半导体集成电路器件,用于在老化测试中向时序发生器施加压力
机译: 用于检测故障的方法,电路和功率放大器,以及保护功率放大器中的电路免于故障发生的方法
机译: 用于检测故障的方法,电路和功率放大器,以及保护功率放大器中的电路免于故障发生的方法