首页> 中国专利> 一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统及方法

一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统及方法

摘要

本发明提供一种具有光学和电子双重检测特性的透射电镜系统,所述透射电镜系统包括:透射电子显微镜、激光引导系统以及样品承载器件,所述样品承载器件包括光纤和样品夹具,所述透射电子显微镜从第一方向聚焦至所述样品夹具上的样品,所述激光引导系统用于将激光从所述光纤的第一端引导进入所述光纤,并由所述光纤的第二端从第二方向对向所述样品。所述系统可以实现物质结构和性质的双重检测,具有重大的科研价值。并且本发明通过安装有光纤的样品杆将会聚光引入透射电镜,并具有对超快激光的脉宽压缩功能,大幅度减弱超快激光通过光纤后的脉宽展宽。

著录项

  • 公开/公告号CN111855568B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院物理研究所;

    申请/专利号CN201910982705.0

  • 申请日2019-10-16

  • 分类号G01N21/01(20060101);G01N21/63(20060101);G01N21/64(20060101);

  • 代理机构11280 北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王勇

  • 地址 100190 北京市海淀区中关村南三街8号

  • 入库时间 2022-08-23 12:43:15

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号