一种克隆特性测试方法、装置、设备及存储介质

摘要

本发明公开了一种克隆特性测试方法，应用于统一存储系统，该方法包括以下步骤：在达到针对统一存储系统的克隆特性的测试触发条件时，在统一存储系统中创建一个源卷的克隆卷；将源卷的数据拷贝到克隆卷；在监控到拷贝完成后，分别进行映射关系监控测试、一致性测试和互相影响测试，并获得相应的测试结果，基于获得的测试结果生成克隆特性测试日志。应用本发明实施例所提供的技术方案，测试过程自动进行，对克隆特性进行全面覆盖测试，可以覆盖一些人工测试容易遗漏的点和测试容易忽略的点进行覆盖测试，提高测试效率和测试质量。本发明还公开了一种克隆特性测试装置、设备及存储介质，具有相应技术效果。