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室温高自旋霍尔角铂-稀土薄膜材料及其制备方法和应用

摘要

一种室温高自旋霍尔角铂‑稀土薄膜材料,属于自旋电子新材料技术领域。所述薄膜材料为生长于基片表面的铂‑稀土合金薄膜,所述铂‑稀土合金薄膜中,稀土元素的摩尔百分比为1mol%~60mol%,铂的摩尔百分比为40mol%~99mol%。本发明提供的一种室温高自旋霍尔角铂‑稀土薄膜材料及其制备方法,简单可行,制得的铂‑稀土薄膜相对于纯铂薄膜的室温下的自旋霍尔角度显著增加,室温自旋扩散长度减小;与纯铂金材料的自旋霍尔效应相比,自旋流的产生效率增加,成本降低,可实现在大面积半导体晶圆片上的均匀制备,为巨自旋霍尔材料的大面积制备与研究提供了一种新的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN111235423B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 电子科技大学;

    申请/专利号CN202010041791.8

  • 申请日2020-01-15

  • 分类号H01L43/14(20060101);

  • 代理机构51203 电子科技大学专利中心;

  • 代理人吴姗霖

  • 地址 611731 四川省成都市高新区(西区)西源大道2006号

  • 入库时间 2022-08-23 12:40:06

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