芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片

摘要

本公开提供一种用于测试多个芯片的芯片测试方法、芯片测试设备以及芯片，涉及半导体测试技术领域。芯片测试方法包括：对被测芯片输出预设激活指令，使所述被测芯片响应测试指令，所述多个芯片中除所述被测芯片以外的其他芯片停止响应除所述预设激活指令以外的信号；输出所述测试指令，测试所述被测芯片。本公开提供的芯片测试方法可以利用有限的测试信号线测试尽可能多的芯片，且能实现每个芯片的单独测试。