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公开/公告号CN112557304B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-17
原文格式PDF
申请/专利权人 复旦大学;
申请/专利号CN202011316227.9
发明设计人 刘翩;郑玉祥;陈良尧;张荣君;王松有;李晶;杨月梅;
申请日2020-11-22
分类号G01N21/21(20060101);
代理机构31200 上海正旦专利代理有限公司;
代理人陆飞;陆尤
地址 200433 上海市杨浦区邯郸路220号
入库时间 2022-08-23 12:29:13
机译: 椭偏测定。多层样品的连续层的材料参数的确定-通过连续去除层,连续椭偏测量以及厚度,折射率和吸收系数的计算。从测试值
机译: 椭偏参数和椭偏仪的测量方法
机译:多层有效介质近似方法,通过原位Mueller矩阵椭偏法测量氧化铝钝化的高多孔硅纳米结构薄膜的环境效应
机译:激光加工参数对增材制造的多孔金属生物材料的机械性能,拓扑和微观结构的影响:基于矢量的方法
机译:用Berkovich纳米压痕实验通过Ti_(1-x)Al_xN(0 <x <1)溅射薄膜的逆有限元方法识别微结构和弹塑性材料参数
机译:椭偏孔隙率法:基于YSZ薄膜的固体氧化物燃料电池材料孔隙率表征的快速无损方法
机译:基于光谱椭偏法的氢化硅薄膜太阳能电池的生长表征和光学建模。
机译:SiOx和SiOx ErF薄膜的氧化退火形成纳米复合材料:椭偏和FTIR分析
机译:Ti(1-x)AlxN(0
机译:被动薄膜,表面结构和应力腐蚀和缝隙腐蚀敏感性。第一部分定性椭偏 - 电化学方法研究有机涂层下的薄膜生长。第二部分。氢互作用