椭偏测厚法在薄膜包装材料参数测试中的应用

摘要

作者对椭偏测厚法数据应用微电脑进行了处理与研究。采用一种求近似解的方法 ,编程运算得出薄膜材料的折射率与厚度。这种方法应用面广、速度快、精度高 ,所得结果令人满意。