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吴永汉; 窦菊英;
云南大学物理系;
椭偏法; 迭代计算; 薄膜; 折射率; 膜厚;
机译:大日本丝网株式会社制造的光谱椭偏仪式膜厚计。实现非接触,无损,简便,高精度的测定。光谱椭偏法的进一步应用开发。
机译:通过椭偏孔隙率法,紫外椭偏法和激光诱导的表面声波研究了SOG低k材料的刚性和亲水性
机译:在相同入射角下对p偏振和s偏振光具有零反射的裸露和薄膜涂层基板:反射率和椭偏参数与基板折射率和膜厚有关
机译:椭偏测量法提取富硅氧化膜的光学性质和厚度
机译:各向异性纳米多孔介质的广义椭偏分析:聚合物渗透的纳米柱和反柱聚合物膜。
机译:自交联壳聚糖/藻酸盐的结构研究原位QCM-D和光谱法的二醛多层膜椭偏仪
机译:椭偏孔隙率法,紫外椭偏法和激光诱导的表面声波研究SOG低k材料的加硬和亲水化
机译:光谱椭偏仪和显微椭偏仪
机译:使用封闭式公式和反射椭偏法确定吸收介质中吸收膜吸收基底系统的基底光学常数和膜厚的方法和智能设备
机译:光谱椭偏仪的焦距调整方法,膜厚测量装置和光谱椭偏仪
机译:光谱椭偏仪,膜厚测量装置以及在该光谱椭偏仪中聚焦的方法
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