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一种具有恢复特性的复合二极管结构及其制造方法

摘要

本发明公开了一种具有超快恢复特性的复合二极管结构及其制造方法,该二极管包括N+衬底,位于N+衬底背面的金属化阴极和位于N+衬底正面的N型外延层;所述N型外延层上设置有一组向N型外延层内延伸的P区,所述P区在硅片有源区的N型外延层上均匀分布;相邻P区之间的N型外延层表面设置有一层采用等离子体轰击方式形成的缺陷层,所述P区和缺陷层上设置有一层肖特基势垒金属,肖特基势垒金属上设置有金属化阳极。该器件结构及其制造方法简单且易于实现,能够获得更快的恢复时间,降低器件的开关功耗,可以用于制造具有超快恢复特性的复合二极管(MPS)领域。

著录项

  • 公开/公告号CN110518013B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 黄山芯微电子股份有限公司;

    申请/专利号CN201910725843.0

  • 发明设计人 饶祖刚;王民安;项建辉;郑科峰;

    申请日2019-08-07

  • 分类号H01L27/07(20060101);H01L29/32(20060101);H01L21/82(20060101);

  • 代理机构34128 芜湖众汇知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹宏筠

  • 地址 245000 安徽省黄山市祁门县新兴路449号

  • 入库时间 2022-08-23 12:17:00

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