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一种基于扫描电镜微操控系统的原子力显微镜探针修饰方法

摘要

一种基于扫描电镜微操控系统的原子力显微镜探针修饰方法,属于原子力显微镜的测量技术领域,包括以下步骤:准备待修饰的纳米颗粒;准备修饰过程中需要的胶水;准备探针;准备扫描电镜工作舱;采用扫描电镜微操控系统进行探针修饰;干燥探针。本发明的修饰过程可视,能选取特定尺寸和分散状态的纳米颗粒对待修饰探针进行修饰,实现修饰纳米颗粒状态可控;其次,可视操作能够明确修饰位置,将纳米颗粒精确修饰至待修饰探针针尖处,避免了“先修饰后观察”的现象,提高了探针的修饰效率。本发明操作简单易行,修饰成功率高,所得探针与颗粒间具有足够的强度用于原子力测试。

著录项

  • 公开/公告号CN111505345B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202010411303.8

  • 申请日2020-05-15

  • 分类号G01Q60/38(20100101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人李晓亮;潘迅

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 12:16:42

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