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AlN单晶薄膜生长方法及具有该薄膜的声表面波谐振器

摘要

本发明提出了一种AlN单晶薄膜的生长方法,在硅酸镓镧类单晶上生长AlN单晶薄膜,所述硅酸镓镧类单晶的取向相对于AlN单晶薄膜的[002]晶向的偏差角度在0°至27°范围内。该方法显著提高沉积的AlN单晶薄膜的质量,提高单晶衍射峰的半高宽和薄膜的均匀一致性,有利于提高器件的性能。

著录项

  • 公开/公告号CN112038217B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-07-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东广纳芯科技有限公司;

    申请/专利号CN202010954072.5

  • 发明设计人 李红浪;柯亚兵;

    申请日2020-09-11

  • 分类号H01L21/02(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人张鑫

  • 地址 510700 广东省广州市黄埔区开源大道136号D栋1004室

  • 入库时间 2022-08-23 12:08:13

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-06-13

    专利权质押合同登记的生效 IPC(主分类):H01L21/02 专利号:ZL2020109540725 登记号:Y2023980042035 登记生效日:20230526 出质人:广东广纳芯科技有限公司 质权人:中信银行股份有限公司广州分行 发明名称:AlN单晶薄膜生长方法及具有该薄膜的声表面波谐振器 申请日:20200911 授权公告日:20210716

    专利权质押合同登记的生效、变更及注销

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