首页> 中国专利> 形成具有特定尺寸的栅极侧壁间隔件之半导体装置的方法

形成具有特定尺寸的栅极侧壁间隔件之半导体装置的方法

摘要

在多晶硅栅电极形成具有特定尺寸的间隔件的方法系于选择性外延生长期间保护多晶硅栅电极侧壁。不论间隔件是对称或非对称,本方法均能在严格的对准规格下,用界定多晶硅栅电极图案及图案间隔件的相同特定曝光工具(例如193nm波长之步进扫描式曝光工具)及相同的图案标线片,精确地界定间隔件。

著录项

  • 公开/公告号CN100459052C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-02-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 先进微装置公司;

    申请/专利号CN200580039217.2

  • 申请日2005-11-29

  • 分类号H01L21/28(20060101);G03F9/00(20060101);H01L21/027(20060101);H01L21/336(20060101);

  • 代理机构11314 北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-01-23

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/28 授权公告日:20090204 终止日期:20161129 申请日:20051129

    专利权的终止

  • 2010-09-08

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/28 变更前: 变更后: 登记生效日:20100730 申请日:20051129

    专利申请权、专利权的转移

  • 2010-09-08

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/28 变更前: 变更后: 登记生效日:20100730 申请日:20051129

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-02-04

    授权

    授权

  • 2009-02-04

    授权

    授权

  • 2008-01-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-01-16

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-11-14

    公开

    公开

  • 2007-11-14

    公开

    公开

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