光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪

摘要

本发明公开一种光谱仪的温控方法、温控装置及气体分析仪。光谱仪的温控方法包括：获取环境温度T和环境相对湿度，根据环境温度T和环境相对湿度确定结露点，根据结露点确定温控区间最小值Ta；根据光谱仪的最佳工作温度区间确定温控区间最大值Tb；确定临界值Tc，Tc＝(Ta+Tb)/2；若环境温度T高于临界值Tc，对光谱仪进行降温，温控目标值为Ta；若环境温度T低于临界值Tc，对光谱仪进行加温，温控目标值为Tb。本发明采用分段式控温，使得光谱仪可满足宽范围环境温度的要求。