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通过层转移在反向极化衬底上的高电子迁移率晶体管制造工艺

摘要

一种方法包括:在牺牲衬底上的极性化合物半导体层上形成阻挡层;将牺牲衬底耦合到载体衬底以形成复合结构,其中,阻挡层布置在极性化合物半导体层与载体衬底之间;将牺牲衬底从复合结构分离以暴露出极性化合物半导体层;以及形成至少一个电路器件。一种装置包括:在衬底上的阻挡层;在阻挡层上的晶体管器件;以及布置在阻挡层与晶体管器件之间的极性化合物半导体层,极性化合物半导体层包括其中的二维电子气。

著录项

  • 公开/公告号CN106415846B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN201480078732.0

  • 申请日2014-06-13

  • 分类号H01L29/778(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人陈松涛;韩宏

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2022-08-23 12:03:29

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