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一种单层或双层二硫化钨薄膜的制备方法

摘要

本发明提供了一种单层或双层二硫化钨薄膜的制备方法,采用双‑异丙基环戊烯基二氢化钨(WH2(iPrCp)2)和氧分子(O2)等离子体作为前驱体,通过原子层沉积(ALD)方法制备出三氧化钨(WO3)薄膜。之后通过硫化WO3薄膜得到单层或双层二硫化钨(SW2)薄膜。本发明采用原子层沉积技术,可通过反应周期精确控制薄膜厚度,可生成单层或双层、致密性良好的二硫化钨(SW2)薄膜,具有重复性好、控制精度高等优势。

著录项

  • 公开/公告号CN110607516B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 云南师范大学;

    申请/专利号CN201911019510.2

  • 申请日2019-10-24

  • 分类号C23C16/455(20060101);C23C16/40(20060101);C23C16/56(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 650500 云南省昆明市呈贡区雨花片区1号

  • 入库时间 2022-08-23 12:02:35

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