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一种抛光垫微观接触状态的测量装置及其使用方法

摘要

本发明公开了一种抛光垫微观接触状态的测量装置及其使用方法,所述的测量装置包括基座、Z向宏微复合直线运动进给装置、力传感器、蓝宝石观测窗口、两个单筒显微镜、两个CCD摄像机、两个显微镜支架、XY两向移动工作台、运动控制系统和计算机。本发明利用光学显微镜直接拍摄抛光垫的接触界面,可以获得真实的微观接触图像,结果更加准确可靠。本发明在固定抛光垫样品时,可以保证待测表面和蓝宝石玻璃表面的均匀贴合,避免了接触不均匀现象。本发明利用DIC方法,可以直接获得抛光垫在压缩过程中的位移云图,并准确得到抛光垫表面粗糙层的压缩刚度,为抛光垫微观接触状态的分析提供可靠的数据支撑。

著录项

  • 公开/公告号CN111469048B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202010291933.6

  • 申请日2020-04-14

  • 分类号B24B37/34(20120101);B24B49/12(20060101);G06T7/00(20170101);G06T7/62(20170101);

  • 代理机构21212 大连东方专利代理有限责任公司;

  • 代理人李洪福

  • 地址 116024 辽宁省大连市高新园区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 12:01:08

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