公开/公告号CN110751978B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-06-08
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;
申请/专利号CN201910981001.1
发明设计人 高璐;
申请日2019-10-16
分类号G11C29/56(20060101);
代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;
代理人戴广志
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号
入库时间 2022-08-23 11:55:24
机译: 在非挥发性半导体存储器中测试内部高压的方法及其电压输出电路
机译: 非挥发性存储器件及其操作方法,能够存储列测试结果,而不会向外部输出列测试结果
机译: 包括用于测试存储器的内置自测试电路的集成电路和存储器测试方法