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基于激光超声中心频率偏移的晶粒度无损评价方法和系统

摘要

本发明提供了一种基于激光超声中心频率偏移的晶粒度无损评价方法和系统,应用于激光超声检测系统,包括:在待评价金属块的多个检测点进行激光超声检测,得到多个激光超声检测信号;获取待评价金属块的被测区域的平均厚度;对各个激光超声检测信号进行提取,得到多个一次激光超声波信号和多个二次激光超声波信号;对多个激光超声检测信号进行高斯拟合操作,分别得到多个第一中心频率、多个频率带宽和多个第二中心频率;基于多个第一中心频率、多个频率带宽、多个第二中心频率和平均厚度,反演计算待评价金属块的平均晶粒直径。本发明可实现等轴单相金属及合金组织关于平均晶粒直径的定量无损表征及评价,有效提高检测灵敏度和检测结果的可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN109839442B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-06-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东省科学院激光研究所;

    申请/专利号CN201910216538.9

  • 申请日2019-03-20

  • 分类号G01N29/12(20060101);

  • 代理机构11646 北京超成律师事务所;

  • 代理人刘静

  • 地址 272000 山东省济宁市海川路9号高新区产学研基地A3号楼B座

  • 入库时间 2022-08-23 11:54:22

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