用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统及方法

摘要

本发明涉及辐射测量技术领域，针对闪烁体反冲康普顿电子发光响应测量中，使用外部电子源时，电子光产额测量受到表面效应和X射线逃逸影响而无法准确测量的问题，提供一种用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统及方法；其中用于测量待测闪烁体电子相对光产额的探测系统包括伽马辐射源、前端铅准直器、前端探测器、后端铅准直器、后端探测器和具有波形符合功能的示波器；前端探测器包括第一光电倍增管；后端探测器包括第二闪烁体和第二光电倍增管；后端铅准直器设置在第二光电倍增管的接收端一侧；第二闪烁体设置在后端铅准直器与第二光电倍增管之间；第一光电倍增管和第二光电倍增管分别与示波器电连接。