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一种基于太赫兹技术的热障涂层平行裂纹监测方法

摘要

本发明提供一种基于太赫兹技术的热障涂层内部平行裂纹监测方法,其特征在于,包括:利用反射式太赫兹时域光谱系统垂直发射太赫兹脉冲至热障涂层,得到其时域光谱图;计算其陶瓷层的折射率n和厚度D;对热障涂层预制平行裂纹,利用反射式太赫兹时域光谱系统垂直发射太赫兹脉冲至热障涂层,得到其时域光谱图;在时域光谱图中提取第二次和第三次反射峰的时间差,根据裂纹宽度计算模型计算出平行裂纹的裂纹宽度;判断裂纹属于涂层内部平行裂纹还是界面平行裂纹,根据判断计算平行裂纹上表面与陶瓷层上表面的距离。本发明的监测方法可以在测量时同时得到时间延时和折射率,从而实现热障涂层平行裂纹在线监测,并且可以确定平行裂纹的具体位置和宽度。

著录项

  • 公开/公告号CN109490244B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华东理工大学;

    申请/专利号CN201811348867.0

  • 申请日2018-11-13

  • 分类号G01N21/3586(20140101);

  • 代理机构31002 上海智信专利代理有限公司;

  • 代理人邓琪

  • 地址 200237 上海市徐汇区梅陇路130号

  • 入库时间 2022-08-23 11:48:01

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