用于具有基本设计限制的集成电路的技术迁移的方法和系统

摘要

本发明公开了一种用于使集成电路(IC)设计从没有基本设计限制(RDR)的源技术迁移至具有RDR的目标技术的系统、方法和程序产品。本发明实现满足RDR需求的最小布图扰动方法。本发明还解决了插入需要的虚拟形状并延伸关键形状和/或虚拟形状的长度以满足“边缘覆盖度”需求的问题。