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一种GaAs/AlGaAs晶体材料的非选择腐蚀方法

摘要

一种GaAs/AlGaAs晶体材料的非选择腐蚀方法,属于半导体器件制造技术领域。现有腐蚀方法采用的腐蚀液主要有H2SO4∶H2O2∶H2O体积比分别为1∶8∶8或者3∶3∶1,以及H3PO4∶H2O2∶H2O的体积比分别为1∶1∶10或者1∶1∶5的腐蚀液,在室温或者冰点温度腐蚀,腐蚀液静止。通常适于条形半导体器件的制作,尚不能腐蚀出符合要求的圆形。本发明之腐蚀方法采用由H3PO4和H2O2两种组分组成,各组分的体积比为H3PO4∶H2O2=10~25∶1的腐蚀液,在30~60℃温度下腐蚀,同时搅动腐蚀液。实现了非选择性腐蚀。本发明可应用于GaAs/AlGaAs半导体器件的制作过程中。

著录项

  • 公开/公告号CN100435292C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-11-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长春理工大学;

    申请/专利号CN200610111350.0

  • 申请日2006-08-24

  • 分类号H01L21/306(20060101);C23F1/16(20060101);C09K13/04(20060101);

  • 代理机构11011 中国兵器工业集团公司专利中心;

  • 代理人曲博

  • 地址 130022 吉林省长春市朝阳区卫星路7089号

  • 入库时间 2022-08-23 09:01:25

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-11-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/306 授权公告日:20081119 终止日期:20100824 申请日:20060824

    专利权的终止

  • 2008-11-19

    授权

    授权

  • 2007-04-04

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-07

    公开

    公开

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