法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2011-11-09
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 21/306 授权公告日:20081119 终止日期:20100824 申请日:20060824
专利权的终止
2008-11-19
授权
授权
2007-04-04
实质审查的生效
实质审查的生效
2007-02-07
公开
公开
机译: /异质结半导体器件的GaAs / AlGaAs选择性刻蚀方法和使用GaAs / AlGaAs选择性刻蚀方法制造p-HEMT的方法
机译: 等离子体的GAAS / Algaas异质结结构的非选择性刻蚀方法
机译: 等离子体的GAAS / Algaas异质结结构的选择性刻蚀方法