运用二维特征的侧向层析检测

摘要

本发明涉及运用二维特征，优选均一的二维检测和对照特征的新型侧向层析装置，提供层析对照信息、作为内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息。本发明还涉及利用所述侧向层析装置提供层析对照信息、作为内部对照和/或为所述检测装置提供内部校准信息的方法。