一种基于纳米天线结构的太赫兹指纹检测灵敏度增强方法

摘要

本发明涉及一种基于纳米天线结构的太赫兹指纹检测灵敏度增强方法，属于太赫兹检测应用技术领域。一种基于纳米天线结构的太赫兹指纹检测灵敏度增强方法，该方法包括如下步骤：步骤a、设计用于检测的纳米天线结构；步骤b、将待检测物质加载在纳米天线结构表面上，测试并记录待检测物质在纳米天线结构表面上的太赫兹透射谱；步骤c、通过分析加载待测物质前后太赫兹透射谱的透过率的变化判断目标物质是否存在。与现有指纹检测方法相比，本发明针对纳米天线结构狭缝内10⁵量级的电场强度及全波段高透过率这两大特点，大幅度提高了检测灵敏度,实现纳米量级厚度目标物质的识别与测量。