在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择

摘要

本申请涉及在JTAG接口中的组合串行和并行测试访问端口选择。电路用于将测试访问端口(TAP)信号耦合到集成电路封装中的联合测试动作组(JTAG)接口。nTRST引脚接收测试复位信号，TMS引脚接收测试模式选择信号，测试用测试访问端口(TAP)具有测试复位信号输入和测试模式选择信号输入，以及调试用测试访问端口(TAP)具有耦合到nTRST引脚的测试复位信号输入和耦合到TMS引脚的测试模式选择信号输入。反相器具有耦合到nTRST引脚的输入和耦合到测试用TAP的测试复位信号输入的输出，并且与门具有耦合到反相器的输出的第一输入、耦合到TMS引脚的第二输入、以及耦合到测试用TAP的测试模式选择输入的输出。