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一种环境应力筛选时间优化方法及设备

摘要

本发明公开了一种电子产品环境应力筛选时间优化方法及设备,属于电子产品可靠性试验领域。环境应力筛选是用于剔除产品早期故障的重要手段,是在产品出厂前对其施加合适的环境应力,剔除存在的潜在缺陷,保证产品使用可靠性。进行环境应力筛选可以减少产品投入使用后的维修费用,同时也会增加生产成本。本发明在进行环境应力筛选时,充分考虑元器件级、组件级筛选费用,尤其是引入了时间费用成本的计算,从而在进行环境应力筛选时充分考虑筛选时间成本,在提高设计可靠性的同时,降低筛选时间,降低生产成本,以提高企业的经济效益和生产效率。

著录项

  • 公开/公告号CN108564224B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中科技大学;

    申请/专利号CN201810374832.8

  • 发明设计人 刘文杰;金健;张航军;

    申请日2018-04-24

  • 分类号G06Q10/04(20120101);G06Q10/00(20120101);G06F30/27(20200101);G06F111/06(20200101);G06F119/02(20200101);G06F119/14(20200101);

  • 代理机构42201 华中科技大学专利中心;

  • 代理人尚威;李智

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

  • 入库时间 2022-08-23 11:31:38

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