首页> 中国专利> 没有伪栅极的图案化方法

没有伪栅极的图案化方法

摘要

本文中的技术提供了用于鳍片和纳米线的精确切割,而不需要伪栅极对来补偿上覆未对准。本文的技术包括使用蚀刻掩模来去除栅极结构的指定部分以限定具有鳍片结构、纳米线等的沟槽或敞开空间。未被覆盖的鳍片结构被蚀刻掉或以其他方式从沟槽区段去除。限定沟槽的蚀刻掩模和材料提供用于去除未被覆盖的鳍片部分的组合蚀刻掩模。随后,用电介质材料填充沟槽段。在不需要伪栅极对的情况下,给定的基片可以显著地装配每单位面积更多的电子器件。

著录项

  • 公开/公告号CN108028268B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东京毅力科创株式会社;

    申请/专利号CN201680051368.8

  • 申请日2016-07-28

  • 分类号H01L29/66(20060101);H01L29/417(20060101);H01L21/033(20060101);H01L21/8234(20060101);

  • 代理机构11227 北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人唐京桥;陈炜

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 11:27:21

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号