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一种FBAR谐振频率和振荡薄膜各层厚度对应关系建立方法

摘要

本发明公开了一种FBAR谐振频率和振荡薄膜各层厚度对应关系建立方法,对于具有双声学反射镜面FBAR,给出应用的要求频率,既定各层材料的厚度,而已知各振荡薄膜层材料的厚度,工作频率也是确定的。本发明通过对FBAR的谐振频率和振荡薄膜各层材料的厚度对应关系建立,使两者可进行相互推导预测。在FBAR的设计中,对确定的频率,而对各振荡层薄膜厚度进行预测,以及,对确定的各振荡层薄膜厚度,而对谐振频率进行预测,提供一种简单的,快速有效的方法,能够加快研发和生产进度。

著录项

  • 公开/公告号CN109756203B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广州市艾佛光通科技有限公司;

    申请/专利号CN201811434371.5

  • 发明设计人 李国强;

    申请日2018-11-28

  • 分类号H03H9/17(20060101);H03H9/54(20060101);G06F30/36(20200101);

  • 代理机构44288 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙);

  • 代理人杨艳;韩丹

  • 地址 510000 广东省广州市黄埔区金中路23号自编一栋办公区303房

  • 入库时间 2022-08-23 11:25:16

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