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基于表面电磁波共振的高性能CMOS红外微测辐射热计

摘要

本发明公开了一种基于表面电磁波共振的高性能CMOS红外微测辐射热计。该微测辐射热计包括L形微桥结构,微桥结构单元包括桥墩、桥臂和红外吸收体,红外吸收体为多层结构,自上而下依次为氮化硅层、金属光栅层、二氧化硅层、蛇形铝热敏电阻层和二氧化硅层。本发明的微测辐射热计结构与传统的微测辐射热计结构相比,在热敏电阻层上面增加了金属光栅,形成MIM结构,该结构利用表面电磁波激发共振,显著提高了探测器的红外吸收率,增加了探测器响应,实现高效率探测。同时本发明的微测辐射热计基于标准CMOS集成电路工艺,具有工艺上容易实现、价格低廉等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN109282903B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-11-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 南京大学;

    申请/专利号CN201710596908.7

  • 申请日2017-07-20

  • 分类号G01J5/20(20060101);

  • 代理机构32207 南京知识律师事务所;

  • 代理人李媛媛

  • 地址 210046 江苏省南京市鼓楼区汉口路22号

  • 入库时间 2022-08-23 11:21:11

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