公开/公告号CN100388575C
专利类型发明授权
公开/公告日2008-05-14
原文格式PDF
申请/专利权人 北京邮电大学;
申请/专利号CN03120468.6
申请日2003-03-17
分类号H01S5/10(20060101);H01L21/306(20060101);C23F1/16(20060101);H01L31/18(20060101);H01L33/00(20060101);
代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;
代理人周长兴
地址 100876 北京市海淀区西土城路10号
入库时间 2022-08-23 09:00:55
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-04-03
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01S 5/10 授权公告日:20080514 终止日期:20170317 申请日:20030317
专利权的终止
2008-05-14
授权
授权
2008-05-14
授权
授权
2004-12-01
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-12-01
实质审查的生效
实质审查的生效
2004-09-22
公开
公开
2004-09-22
公开
公开
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机译: 在通过改进的形成具有稳定阈值电压和平坦带电压的互补金属氧化物半导体(CMOS)结构的方法形成的CMOS器件中,实现在CMOS器件中实现阈值电压控制的阻挡层(的高k电介质选择性实现)
机译: 具有改进的阈值电压和平坦带电压(CMOS)结构的稳定性的互补金属氧化物半导体及其形成方法(为了通过在CMOS器件形成中实现阈值可变电压控制而选择性地安装势垒层)高介电常数
机译: 用于制造光电子器件的方法,光电子器件以及液态的第一合金在用于制造光电子器件中的用途