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磷化铟基光电子器件中楔形腔和平行腔结构实现方法

摘要

本发明涉及一种InP(磷化铟)基光电子器件,特别涉及此器件中的楔形腔和平行腔的实现方法。本发明特征在于利用选择性腐蚀在InP基半导体外延层上实现具有特定倾角的楔形结构,以及实现基于空气隙的平行腔结构。其中楔形结构的倾角可以通过选择不同的腐蚀液的组分比例来调节。本发明涉及的方法具有与半导体集成工艺兼容的特点,势将对今后光波与光电子器件的发展产生重要而深远的影响。

著录项

  • 公开/公告号CN100388575C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2008-05-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京邮电大学;

    申请/专利号CN03120468.6

  • 申请日2003-03-17

  • 分类号H01S5/10(20060101);H01L21/306(20060101);C23F1/16(20060101);H01L31/18(20060101);H01L33/00(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人周长兴

  • 地址 100876 北京市海淀区西土城路10号

  • 入库时间 2022-08-23 09:00:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-04-03

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01S 5/10 授权公告日:20080514 终止日期:20170317 申请日:20030317

    专利权的终止

  • 2008-05-14

    授权

    授权

  • 2008-05-14

    授权

    授权

  • 2004-12-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-12-01

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2004-09-22

    公开

    公开

  • 2004-09-22

    公开

    公开

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